欧美克 Topsizer激光粒度分析仪

欧美克 Topsizer激光粒度分析仪产品简介：

Topsizer激光粒度分析仪是一款高性能激光粒度分析仪。它具有量程宽、重复性好、精度高、测试结果真实、自动化程度高等诸多优点，是广受客户赞誉的国产高性能干湿法激光粒度仪。

用途：

既可测量须在液体中分散的样品，也可测量须在气体中分散的粉体材料。

欧美克 Topsizer激光粒度分析仪工作原理：

利用颗粒对光的散射现象，根据散射光能的分布推算被测颗粒的粒度分布。通过对光学、机械、电子、计算机等系统的整合和优化，使欧美克激光粒度仪具备重现性良好、分辨能力高、动态测量范围宽广、操作简单方便等优点。

欧美克 Topsizer激光粒度分析仪光学系统

双光源技术

Topsizer激光粒度分析仪采用红蓝双光源设计，红光主光源为进口氦-氖激光器，波长0.6328μm，并有蓝光辅助半导体光源，波长0.466μm，弥补了常规设计散射光角度的盲区，很大地提高了对纳米级颗粒及少量大颗粒的分辨力。

稳定的激光光源

进口主光源预热时间短，输出单模偏振激光偏振比达500:1以上，光束中TEM00模占比达95%以上，且激光功率始终稳定，功率波动小于0.5%，使得仪器的背景很低而且稳定，大大提高了系统对有效信号的分辨能力。

直线光路设计

Topsizer激光粒度分析仪光路系统采用密闭式直线光路设计，无多余反射光学部件造成的杂散光，亦无粉尘污染干扰，同时采用高精度全铝合金光学平台，确保光路稳固可靠。

后傅立叶变换单镜头设计

单镜头设计，采用透镜后傅立叶变换结构，突破了傅立叶透镜的光瞳制约，使散射光接收角不受傅立叶镜头口径限制;而且单镜头光路中的折射、反射杂散光干扰被减少，可以进一步降低仪器工作时的背景噪声至很低水平，提高了仪器测量时的信噪比。

长焦距的傅里叶透镜

Topsizer激光粒度分析仪选用具有长焦距的傅立叶透镜，这样增加了测量窗口到光电探测器平面的距离(也就是有效焦距)，从而使光电探测器能够准确探测到更小散射角度的散射光信号，大大增强了仪器对大颗粒的测试能力，仪器的测量上限达2000μm。

合理分布、高感光度的进口光电探测器

Topsizer激光粒度分析仪光电探测器为特殊定制的进口光电探测器，确保仪器具有较高的分辨力和灵敏度。探测通道数多达98个，由前向、侧向、大角度和后向光电探测器组成三维立体检测系统，探测角范围达到0.016-140度。结合蓝光散射信号，实现了空间全角度范围散射光能信号的无缝接收，有效保证颗粒散射光能信息的准确获取。

智能自动对中

智能软件控制自动对中系统保证了准确的光学对中。智能判断自动对中既可作为自动测量的一部分，亦可手动在屏幕上单击鼠标来完成。智能自动对中系统保证了多次测量的重现性。

欧美克 Topsizer激光粒度分析仪高性能分散进样系统

湿法进样系统：

标配SCF-108A循环进样器，采用的灯笼头下压式水流循环回路设计，配备大功率准确自动控制搅拌电机，可达3500转/分钟的同时减少了气泡和液体飞溅的产生，并具有效率高的分散、清洗、排干能力。内置功率50W的效率高的管路超声装置，超声强度无级连续可调。标配1000毫升样品池，可根据客户需求更换容量。

可选SCF-105B全自动循环进样器，除加样外的粒度测试操作均可自动控制完成。进样池采用316L不锈钢，配置效率50W底部超声及速度可达4000转/分钟的*密搅拌装置，均无及连续可调。

根据需要可选更多不同特性(例如微量、微量循环、耐腐蚀等)的湿法进样器。

干法进样系统：

标配DPF-110自动干法进样器，分散气压0.05-0.6MPa无级可调，三重可调下料机构设计，配备压电陶瓷*密振动控制单元及刚玉瓷分散管，可适应于各种样品及分散强度的测试要求。内置分散压传感器和负压传感器，测试条件可追溯。测试窗口全密闭，具有负压保护装置，可有效防止窗口和主机的污染。

欧美克 Topsizer激光粒度分析仪功能强大的分析软件

软件设计模块化，仪器状态可视化，操作界面人性化，流程界面清晰明了，拥有导航功能

仪器具备智能化自动化操作。能够自检和自动识别进样系统;每次测量前能自动测量电背景，有效减少电噪声对测试结果的影响。配置自动化进样器可以进行全自动干湿法粒度测试，手动测样亦有清晰的导航测试功能。

完善、开放的样品特性参数数据库，具有常用样品折射率和吸收率参数

具备SOP标准操作流程，减少人为因素的影响，使分析测试流程标准化

SOP测量控制界面：

多种数据分析模型，满足不同特性样品的测试需要

体积分布、表面积分布、长度分布和数量分布之间可以相互转换

欧美克 Topsizer激光粒度分析仪良好的测试性能

宽广的测量范围

Topsizer的实测范围为0.02-2000um，从亚微米颗粒到毫米级颗粒均可一次性实现检测，能满足粉体行业对颗粒粒度检测与控制的各种需求。

宽分布样品

对大颗粒具有强大测试性能

毫米级玻璃微珠

对纳米、亚微米等超细颗粒具备良好识别能力

杰出的分辨能力

Topsizer能够准确测定样品中颗粒分布的微小变化，准确反映样品的实际粒度分布，能够满足技术研究和质量控制的需要。

快速的测试速度

Topsizer快速的分散系统为仪器的快速测试提供了良好前提，使常规的测试能在10秒内快速完成，大幅提升了测试的效率，更好的满足了用户的需求。

高灵敏度

多达98个光电探测通道，由双光源及前向、侧向、大角度、后向光电探测器组成三维立体无盲区检测系统，大探测角度可达140度。每次测试之前，软件自动检测信噪度，使仪器对大小颗粒的微小变化有着很高的灵敏度。

良好适应性

可选具有强分散能力分散系统，即使对于超大密度的金属粉末、玻璃粉末均有良好的分散效果而不沉淀，从而满足各种不同密度的颗粒粒度测试的需要。