美国CID CI-202便携式激光叶面积仪

美国CID CI-202便携式激光叶面积仪利用先进的激光技术精、方便的进行原位非破坏性测量叶片面积(或叶片状物体的面积)，一次测量操作可获得叶片的面积、长度、宽度、长宽比、周长和形状因子等参数并自动存储在仪器内存中，存储量达8000个数据。

美国CID CI-202便携式激光叶面积仪产品简介：
•便携式叶面积仪CI-202利用先进的激光技术精、方便的进行原位非破坏性测量叶片面积（或叶片状物体的面积），特别是小型叶子或无叶柄的叶片
•一次测量操作可获得叶片的面积、长度、宽度、长宽比、周长和形状因子等参数并自动存储在仪器内存中，存储量达8000个数据
•主机和板子之间有16mm空隙，不会损伤非常柔软脆弱的叶片，更便于测量厚度大的叶片

美国CID CI-202便携式激光叶面积仪产品特点：
•原位非破坏、非接触测量，也可离体测量
•测量不会损伤脆弱叶片
•数据存储量大，可存储8000个数据
•存储的数据可以传输给计算机或打印机
•可自动计算累计值和平均值 

美国CID CI-202便携式激光叶面积仪技术参数：